阻抗控制打样需要注意以下关键问题:

材料与工艺控制
基材选择:需选择介电常数(Dk)和损耗因子(Df)稳定的基材,例如FR4(Dk≈4.4),避免因材料参数波动导致阻抗偏差。
铜箔厚度:铜箔厚度直接影响阻抗值,需根据设计要求精确控制。
线宽/间距:线宽增加阻抗变小,线距增大阻抗增大,需严格遵循设计规范。
设计与文件要求
文件规范:需提供完整的Gerber文件和制版说明,明确层数、材质、焊盘工艺、油墨颜色等参数。
仿真验证:建议使用专业仿真工具验证信号完整性,确保阻抗符合高速传输要求。
制造与测试
光刻精度:需严格控制光刻精度,避免线路宽度和间距偏差。
蚀刻均匀性:确保线路边缘平整度,避免阻抗突变。
阻抗测试:生产过程中需定期测试阻抗值,确保符合设计要求(免费打样公差通常为±10%)。
环境与沟通
环境控制:保持生产环境温度和湿度稳定,避免材料参数变化。
厂商沟通:明确阻抗要求及公差范围,优先保证关键信号线路。
特殊场景建议
免费打样:适用于原型验证或低频电路,建议预留10%-15%设计余量,优先表层走线设计。
多层板:层间隔均匀性是关键,需选择高精度设备生产。
